基礎電子學 - 場效應電晶體(JFET)



JFET是結型場效應電晶體的縮寫。JFET就像普通的場效應電晶體一樣。JFET的型別有N溝道FET和P溝道FET。在N溝道FET中,P型材料新增到N型襯底上,而在P溝道FET中,N型材料新增到P型襯底上。因此,理解其中一種FET就足以理解兩種FET。

N溝道FET

N溝道FET是最常用的場效應電晶體。為了製造N溝道FET,取一根窄的N型半導體棒,在其相對兩側透過擴散形成P型材料。這兩側連線在一起,形成柵極終端的單個連線。這可以從下圖理解。

FET

這兩個柵極沉積物(P型材料)形成兩個PN接面二極體。柵極之間的區域稱為溝道。多數載流子透過該溝道。因此,FET的橫截面形式如下圖所示。

N-Channel FET

在N型半導體棒的兩端形成歐姆接觸,形成源極和漏極。源極和漏極端子可以互換。

N溝道FET的工作原理

在瞭解FET的工作原理之前,應該瞭解耗盡層的形成方式。為此,讓我們假設柵極端子的電壓,例如VGG,是反向偏置的,而漏極端子的電壓,例如VDD,則未施加。設此為情況1。

  • 情況1中,當VGG反向偏置且VDD未施加時,P層和N層之間的耗盡區會擴充套件。這是因為施加的負電壓會將空穴從P型層吸引到柵極端子。

  • 情況2中,當施加VDD(正極連線到漏極,負極連線到源極)且VGG未施加時,電子從源極流向漏極,構成漏極電流ID

現在讓我們考慮下圖,以瞭解同時施加兩個電源時會發生什麼。

N-Channel FET Operation

柵極端子的電源使耗盡層增大,漏極端子的電壓允許漏極電流從源極流向漏極端子。假設源極端子的點為B,漏極端子的點為A,則溝道的電阻將使得A端子的電壓降大於B端子的電壓降。這意味著:

VA>VB

因此,電壓降沿溝道長度逐漸增大。因此,反向偏置效應在漏極端子比在源極端子更強。這就是為什麼當同時施加VGGVDD時,耗盡層傾向於在A點比在B點更深入地滲透到溝道中。下圖說明了這一點。

Behaviour of FET

現在我們已經瞭解了FET的行為,讓我們瞭解FET的實際工作原理。

耗盡型工作模式

由於耗盡層的寬度在FET的工作中起著重要作用,因此稱為耗盡型工作模式。我們還有另一種稱為增強型工作模式,這將在MOSFET的工作原理中討論。但JFET只有耗盡型工作模式

讓我們考慮一下柵極和源極端子之間沒有施加電位,並且在漏極和源極之間施加了電位VDD。現在,電流ID從漏極流向源極端子,因為溝道寬度較大,所以電流達到最大值。設柵極和源極端子之間施加的電壓VGG為反向偏置。這會增加耗盡層的寬度,如上所述。隨著層增厚,溝道的橫截面積減小,因此漏極電流ID也減小。

當進一步增加該漏極電流時,會發生一個階段,其中兩個耗盡層相互接觸,並阻止電流ID流動。下圖清楚地顯示了這一點。

Depletion Mode

這兩個耗盡層實際上“接觸”的電壓稱為“夾斷電壓”。它表示為VP。此時漏極電流實際上為零。因此,漏極電流是柵極反向偏置電壓的函式。

由於柵極電壓控制漏極電流,因此FET被稱為電壓控制型器件。這從漏極特性曲線可以更清楚地理解。

JFET的漏極特性

讓我們嘗試總結FET的功能,透過該功能我們可以獲得FET漏極的特性曲線。下面給出用於獲得這些特性的FET電路。

Drain Characteristics JFET

當柵極和源極之間的電壓VGS為零或它們短路時,從源極到漏極的電流ID也為零,因為沒有施加VDS。隨著漏極和源極之間電壓VDS的增加,從源極到漏極的電流流ID增加。電流的增加在某個點A(稱為膝電壓)之前是線性的。

柵極端子將處於反向偏置狀態,並且隨著ID的增加,耗盡區趨於收縮。這種收縮的長度不相等,使得這些區域在漏極處靠近,在源極處遠離,這會導致夾斷電壓。夾斷電壓定義為漏極電流接近恆定值(飽和值)時的最小漏極到源極電壓。發生此夾斷電壓的點稱為夾斷點,表示為B

隨著VDS的進一步增加,溝道電阻也相應增加,以至於ID實際上保持恆定。區域BC稱為飽和區或放大器區。所有這些以及點A、B和C都繪製在下圖中。

N-Channel FET Structure

對於不同的柵極源極電壓VGS值,繪製漏極電流ID對漏極源極電壓VDS的漏極特性曲線。對於各種輸入電壓,總體漏極特性如下所示。

Plotted Drain Characteristics

由於負柵極電壓控制漏極電流,因此FET被稱為電壓控制型器件。漏極特性表示FET的效能。上面繪製的漏極特性用於獲得漏極電阻、跨導和放大係數的值。

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