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場效應電晶體
場效應電晶體 (FET) 是一種三端半導體器件。其工作原理基於受控的輸入電壓。從外觀上看,JFET 和雙極電晶體非常相似。但是,BJT 是電流控制器件,而 JFET 受輸入電壓控制。最常見的兩種 FET 型別。
- 結型場效應電晶體 (JFET)
- 金氧半導體場效應電晶體 (IGFET)
結型場效應電晶體
結型場效應電晶體的功能取決於僅多數載流子(電子或空穴)的流動。基本上,JFET 由一個N型或P型矽棒組成,該棒在側面包含 PN 結。以下是一些關於 FET 的重要要點:
柵極 - 使用擴散或合金化技術,N 型棒的兩側進行重摻雜以建立 PN 結。這些摻雜區域稱為柵極 (G)。
源極 - 它是多數載流子的入口點,透過它它們進入半導體棒。
漏極 - 它是多數載流子的出口點,透過它它們離開半導體棒。
溝道 - 它是 N 型材料的區域,多數載流子透過該區域從源極流向漏極。
在半導體器件領域中,通常使用兩種型別的 JFET:N 溝道 JFET 和P 溝道 JFET。
N 溝道 JFET
它在 P 型襯底上形成一層薄的 N 型材料。下圖顯示了 N 溝道 JFET 的晶體結構和示意圖。然後在 N 溝道頂部用 P 型材料形成柵極。在溝道的末端和柵極處,連線引線,襯底沒有連線。
當將直流電壓源連線到 JFET 的源極和漏極引線時,最大電流將流過溝道。相同數量的電流將從源極和漏極端子流出。溝道電流流動的量將由 VDD 的值和溝道的內阻決定。
JFET 的源漏電阻的典型值為數百歐姆。很明顯,即使柵極開路,溝道中也會發生全電流傳導。本質上,在 ID 上施加的偏置電壓的大小控制著透過 JFET 溝道的載流子的流動。透過稍微改變柵極電壓,可以控制 JFET 在全導通和截止狀態之間的任何位置。

P 溝道 JFET
它在 N 型襯底上形成一層薄的 P 型材料。下圖顯示了 N 溝道 JFET 的晶體結構和示意圖。在 P 溝道頂部用 N 型材料形成柵極。在溝道的末端和柵極處,連線引線。其餘的構造細節與 N 溝道 JFET 相似。

通常,對於一般操作,柵極端子相對於源極端子為正。P-N 結耗盡層的尺寸取決於反向偏置柵極電壓值的波動。透過稍微改變柵極電壓,可以控制 JFET 在全導通和截止狀態之間的任何位置。
JFET 的輸出特性
JFET 的輸出特性是在漏電流 (ID) 和漏源電壓 (VDS) 之間繪製的,在恆定的柵源電壓 (VGS) 下,如下圖所示。

最初,漏電流 (ID) 隨著漏源電壓 (VDS) 的增加而迅速上升,但在稱為夾斷電壓 (VP) 的電壓下突然變得恆定。在夾斷電壓以上,溝道寬度變得非常窄,以至於只允許非常小的漏電流透過。因此,漏電流 (ID) 在夾斷電壓以上保持恆定。
JFET 的引數
JFET 的主要引數為:
- 交流漏極電阻 (Rd)
- 跨導
- 放大倍數
交流漏極電阻 (Rd) - 它是恆定柵源電壓下漏源電壓 (ΔVDS) 變化量與漏電流 (ΔID) 變化量的比率。它可以表示為:
Rd = (ΔVDS)/(ΔID) 在恆定 VGS 下
跨導 (gfs) - 它是恆定漏源電壓下漏電流 (ΔID) 變化量與柵源電壓 (ΔVGS) 變化量的比率。它可以表示為:
gfs = (ΔID)/(ΔVGS) 在恆定 VDS 下
放大倍數 (u) - 它是恆定漏電流 (ΔID) 下漏源電壓 (ΔVDS) 變化量與柵源電壓 (ΔVGS) 變化量的比率。它可以表示為:
u = (ΔVDS)/(ΔVGS) 在恆定 ID 下